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OP‑6000 棱镜耦合仪
OP-6000 棱镜耦合仪可测量晶体、薄膜、光波导的折射率、膜厚与传输损耗，折射率精度 ±0.0005，支持多波长选配，可联动 FilmSure 膜厚仪，提供膜厚基准溯源，适用于企业研发与高校科研等场景。
核心优势
- 折射率测量精度 ±0.0005，一站式多参数检测
- 波长覆盖 405nm-1650nm，可选配375nm、266nm
- 气动耦合无耦合液，TE/TM 模式支持，操作简便
- 可与膜厚仪联动，构建研发到量产的数据闭环
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