新品 | FA/VG/MT高精度量测系统，重复上下料精度3σ＜0.1μm
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基于多波长折射率数据拟合 Sellmeier 色散方程，表征材料色散特性。
折射率分布计算

由有效折射率反演折射率-深度分布，并生成二维分布图。
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根据膜层折射率与厚度，计算各阶导模的有效折射率及模式参数。
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